安捷倫Agilent射頻測試儀4287A
產品詳細介紹:
頻率1 MHz至3 GHz,100 kHz步進
測量范圍
寬阻抗測量范圍:200 m ohm至3 k ohm
基本測量精度1%基本精度
更多特性
在低測試信號電平時優(yōu)異的測量可重復性
高速測量: 9 ms
Agilent4287A射頻測試儀
Agilent4287A射頻測試儀LCR在1MHz~3GHz頻率范圍可以提供,可靠和快速測量,以改進生產線上對電子元件進行測試的質量和生產率。與反向測量技術不同,采用直流電壓測量技術能在大的阻抗范圍進行測量。
生產率高,質量可靠
4287A適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。4287A的測量非???。此外,在小測試電流(100μA)優(yōu)良的測試重復性還可以顯著提高生產率,因為所需的取平均過程非常短。
系統(tǒng)組建簡單
測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件點測件接點附近,而不會使誤差有任何增大。內置比較器功能,高速GPIB處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機的組合。增強的比較器功能可以使復雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。
便于使用
8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測量設置和結果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無差錯。內置統(tǒng)計分析功能可以提供監(jiān)視測試質量和效率的過程。可選用的LAN接口有助于統(tǒng)一進行生產**。此外,若干APC-7SMD測量夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉APC-7適配器聯(lián)用,從而無需制作專用夾具。
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