成都四洋科技有限公司
詳細(xì)摘要： HAST半導(dǎo)體高加速老化測試系統(tǒng)，是在非飽和濕度（65%～10 0%RH可調(diào)）、溫度、壓力等條件下，檢測產(chǎn)品或材料可靠性耐高溫高濕能力的儀器設(shè)備。HAST高壓加...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2025-05-26 在線留言
詳細(xì)摘要： 熱流儀集成電路IC卡高低溫測試，具有更guan泛的溫度范圍-80℃到+225℃，提供了很強的溫度轉(zhuǎn)換測試能力。溫度轉(zhuǎn)換從-55℃到+125℃之間轉(zhuǎn)換約10秒 ;...
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詳細(xì)摘要： 太陽能模塊HAST高加速老化壽命試驗解決方案，太陽能模塊，如光伏組件和太陽能電池板，需要具備良好的密封性和耐久性，以確保其在不同氣候條件下的長期穩(wěn)定運行。HAS...
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詳細(xì)摘要： 熱流儀5G通訊模塊 可靠高低溫沖擊，隨著5G技術(shù)的快速發(fā)展，通訊模塊在不同環(huán)境下的穩(wěn)定性成為行業(yè)關(guān)注焦點。為確保5G設(shè)備在劇烈溫差環(huán)境中仍能高效運行，高低溫沖擊...
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詳細(xì)摘要： HAST測試機試驗箱高加速壓力系統(tǒng)，是在非飽和濕度（65%～10 0%RH可調(diào)）、溫度、壓力等條件下，檢測產(chǎn)品或材料可靠性耐高溫高濕能力的儀器設(shè)備。HAST高壓...
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詳細(xì)摘要： 卡盤zonglen三溫Chuck探針臺卡盤，晶圓盤系統(tǒng)用于半導(dǎo)體晶圓的表征測試、建模、工藝開發(fā)、設(shè)計調(diào)試，去BUG或IC故障分析，具有所有主要分析探針臺集成所需...
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詳細(xì)摘要： 高加速老化HAST箱HAST測試機Burn-in Oven，是在非飽和濕度（65%～10 0%RH可調(diào)）、溫度、壓力等條件下，檢測產(chǎn)品或材料可靠性耐高溫高濕能力...
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詳細(xì)摘要： 接觸式在線式溫度沖擊系統(tǒng)，過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現(xiàn)能量傳遞，與傳統(tǒng)氣流式高低溫設(shè)備（熱流儀、溫箱等）相比具有升降溫效率高，操作簡單方便，體積小巧，噪...
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詳細(xì)摘要： HAST高加速老化試驗箱，是在非飽和濕度（65%～10 0%RH可調(diào)）、溫度、壓力等條件下，檢測產(chǎn)品或材料可靠性耐高溫高濕能力的儀器設(shè)備。HAST高壓加速老化試...
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詳細(xì)摘要： HAST 高加速壓力測試系統(tǒng)，是在非飽和濕度（65%～10 0%RH可調(diào)）、溫度、壓力等條件下，檢測產(chǎn)品或材料可靠性耐高溫高濕能力的儀器設(shè)備。HAST高壓加速老...
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詳細(xì)摘要： HAST 高壓加速老化試驗箱，是在非飽和濕度（65%～10 0%RH可調(diào)）、溫度、壓力等條件下，檢測產(chǎn)品或材料可靠性耐高溫高濕能力的儀器設(shè)備。HAST高壓加速老...
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詳細(xì)摘要： HAST測試的失效機理，是在非飽和濕度（65%～10 0%RH可調(diào)）、溫度、壓力等條件下，檢測產(chǎn)品或材料可靠性耐高溫高濕能力的儀器設(shè)備。HAST高壓加速老化試驗...
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詳細(xì)摘要： HAST測試機Burn-in system，是在非飽和濕度（65%～10 0%RH可調(diào)）、溫度、壓力等條件下，檢測產(chǎn)品或材料可靠性耐高溫高濕能力的儀器設(shè)備。HA...
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詳細(xì)摘要： 接觸式芯片測試設(shè)備高低溫沖擊設(shè)備，過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現(xiàn)能量傳遞，與傳統(tǒng)氣流式高低溫設(shè)備（熱流儀、溫箱等）相比具有升降溫效率高，操作簡單方便，體積...
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詳細(xì)摘要： 溫度強迫系統(tǒng)接觸式高低溫測試 ATC840，過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現(xiàn)能量傳遞，與傳統(tǒng)氣流式高低溫設(shè)備（熱流儀、溫箱等）相比具有升降溫效率高，操作簡單...
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詳細(xì)摘要： 冷熱循環(huán)沖擊氣流測試機熱流罩，具有更guan泛的溫度范圍-80℃到+225℃，提供了很強的溫度轉(zhuǎn)換測試能力。溫度轉(zhuǎn)換從-55℃到+125℃之間轉(zhuǎn)換約10秒 ; ...
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詳細(xì)摘要： HAST高加速壽命偏壓 老化測試系統(tǒng)，微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)。是一種用于評估微波器件在條件下的性能和可靠性的測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過施加高加速偏壓，模擬...
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詳細(xì)摘要： BiasHAST偏壓老化測試系統(tǒng)，HAST測試系統(tǒng)采用立式結(jié)構(gòu)，便于操作和觀察。它利用高溫高濕的環(huán)境條件，對半導(dǎo)體芯片施加偏置電壓，以模擬芯片在長時間使用過程中...
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