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高加速應(yīng)力試驗(yàn)箱-濕熱加速箱HAST 試驗(yàn)?zāi)軌蛟诙虝r(shí)間內(nèi)模擬產(chǎn)品長(zhǎng)時(shí)間使用后的狀態(tài)，快速地使產(chǎn)品老化，加速激發(fā)產(chǎn)品潛在的缺陷和故障，從而有效篩選出早期失效的產(chǎn)品...

HAST加速老化試驗(yàn)箱電子元器件：如集成電路、半導(dǎo)體元件、電容器、電阻器等，通過(guò) HAST 試驗(yàn)可以評(píng)估其在高溫高濕及壓力條件下的密封性能、防潮性能以及老化性能...

非飽和型高壓加速壽命試驗(yàn)箱 綜合失效分析非飽和型高壓加速壽命試驗(yàn)箱（HAST）是一種通過(guò)模擬高溫、高壓、高濕的非飽和蒸汽環(huán)境，加速產(chǎn)品老化并暴露潛在缺陷的可靠性...

高壓加速壽命測(cè)試機(jī) hast加速老化試驗(yàn)箱基于高溫、高濕、高壓的嚴(yán)苛環(huán)境模擬技術(shù)，能夠以遠(yuǎn)超自然老化的速度，加速測(cè)試各類材料、電子元器件、半導(dǎo)體封裝、印刷電路板...

芯片高加速應(yīng)力試驗(yàn)箱（HAST）HAST非飽和高壓加速老化試驗(yàn)箱是使用在加壓和溫度受控的環(huán)境中施加過(guò)熱蒸汽的非冷凝(不飽和方法)，將外部保護(hù)材料、密封劑或外部材...

HAST 試驗(yàn)箱 壓力老化箱HAST試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，使用...

HAST高溫高濕高壓老化箱HAST試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，使用于...

HAST壽命試驗(yàn)箱 高加速溫度和濕度壓力HAST 壽命試驗(yàn)箱，又稱高壓加速老化試驗(yàn)箱，主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性。在設(shè)定的溫度、相對(duì)濕度和壓力條...

PCT 高壓加速老化試驗(yàn)箱 氣壓濕度款具有模擬大氣環(huán)境中溫度變化規(guī)律。主要針對(duì)于電工，電子產(chǎn)品，以及其元器件及其它材料在高溫，低溫綜合環(huán)境下運(yùn)輸，使用時(shí)的適應(yīng)性...

高壓加速老化試驗(yàn)機(jī) HT-HAST-80L該設(shè)備主要是測(cè)試產(chǎn)品在高溫、高溫高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn)，主要用于對(duì) 電工、電子產(chǎn)品，元器...